JTAG es un estándar para probar las interconexiones entre los chips de circuitos integrados en una placa de circuito impreso . La norma no requiere contacto físico directo con las interconexiones a sí mismos . Se trata de un método de control de calidad ampliamente utilizado en la fabricación electrónica moderna y ha hecho posible para probar placas de circuito cada vez más miniaturizados . Prueba antes de JTAG

Antes de la adopción de la norma JTAG, interconexiones de circuitos integrados tuvieron que ser probado con dispositivos que realizan las conexiones eléctricas directas con la propia placa de circuito. Típica de estos fue el llamado " cama de clavos " probador , que incluía muchas sondas pequeñas que se colocan para hacer contacto con interconexiones específica impreso . Los circuitos impresos se hicieron más pequeños y más complejos , sin embargo , el costo de la construcción de estos dispositivos de prueba se incrementó dramáticamente , mientras que al mismo tiempo que se hizo más difícil de usar .
Nacimiento de JTAG
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En la década de 1980 la industria electrónica formó el Grupo de Acción de Tarea Conjunta (de ahí el acrónimo, JTAG ) para el diseño de un lenguaje y una arquitectura estándar para ensayo de circuitos integrados que utilizan una técnica llamada " exploración de límites. " escaneo de límites implica el uso de poner a prueba los puertos integrados en el propio circuito , a través de la cual las señales se pueden pasar a ambos lados de una interconexión de chip , e incluye la comparación de los resultados . Esto permite que la inferencia de los trazados en cortocircuito o abierta entre chips sin requerir contacto directo con las interconexiones. La arquitectura JTAG convirtió en un estándar internacional cuando fue incorporado en IEEE Std. - 1149.1 en 1990.
Cómo funciona JTAG

La arquitectura JTAG especifica el uso de una interfaz integrada en el circuito impreso , que utiliza una conexión en serie de cuatro hilos llamado TAP , o puerto de acceso de prueba . Esta interfaz incluye unos datos de prueba y datos de ensayos Fuera de alambre , así como de reloj de prueba y cables de prueba del Estado de modo que se conectan a un controlador TAP incluido en el circuito . El TAP permite la conexión de límite herramientas que comparan las señales de entrada y salida del circuito y diagnosticar problemas de interconexión de exploración.
JTAG Aplicaciones

JTAG fue originalmente diseñado para el uso en control de calidad durante el proceso de fabricación de circuito impreso . Sin embargo, su amplia adopción ha hecho posible el uso de equipo de prueba JTAG para depuración de firmware instalado , así como la prueba de los circuitos durante la fabricación de los productos finales . Electrónica mantenimiento y el personal de reparación también se utilizan cada vez más el equipo de prueba JTAG para diagnosticar problemas de hardware y software en el sitio del usuario final.